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查察引用/信息源请点击：映维网Nweon 穿透折射率（RI）值范围为1.8至2.0+，残余层厚度（RLT）小于100nm （映维网Nweon2023年01月30日）复合质料制造商Pixelligent日前公布，团队将于下周举行的Photonics West大会先容其用于Extended Reality装备的低残余层厚度PixNIL产物。这家公司表现，依附穿透折射率（RI）值范围为1.8至2.0+，残余层厚度（RLT）小于100nm，这一组合提供了XR主流遍及所需的优秀光学性能。 Pixelligent指出，对于XR头显，更高的穿透折射率RI对应于更宽的视场，而高RI和低RLT的组合在XR器件中提供了一系列的光学性能，并提供了更轻易的折射率匹配。Pixelligent的PixNIL产物及其近来推出的PixJet配方有含溶剂和无溶剂两种版本，涵盖了广泛的高折射率，可以满足客户的一系列要求。比方，所述产物可用于制造具有优秀光学性能和坚固机器性能的高折射率薄膜。 固然，具体的上风将由Pixelligent的应用工程总监彼得·古斯驰（Peter Guschl）在1月30日平静洋尺度时间上午10点50分的演讲中举行先容。此中，他的演讲题为“扩展现实的紫外线稳固高折射率纳米复合质料”。 Pixelligent的总裁兼首席实行官克雷格·班德斯（Craig Bandes）表现：“在XR装备的主流竞争中，得胜者将是可以大概提供良好光学性能以及实用于长时间佩戴的丰富功能头显。作为一家专注于用高性能质料推动光学创新的公司，我们非常高兴能在这场顶级的环球盛会展示我们PixNIL产物的最新技能细节。” |
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