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英特尔高管:未来芯片制造将镌汰对ASML高NA EUV光刻机的依赖

IT之家 6 月 21 日消息,据投资研究平台 Tegus 披露的讨论内容,一位匿名英特尔总监表示,未来晶体管计划将低落对先辈光刻设备的依赖,转而提拔刻蚀技能的核心职位。他以为,随着全围绕栅极场效应晶体管(IT之家注:

IT之家 6 月 21 日消息,据投资研究平台 Tegus 披露的讨论内容,一位匿名英特尔总监表示,未来晶体管计划将低落对先辈光刻设备的依赖,转而提拔刻蚀技能的核心职位。

他以为,随着全围绕栅极场效应晶体管(IT之家注:即 GAAFET)和互补场效应晶体管(CFET)等新型结构的发展,高端芯片制造对光刻环节的总体需求将会减弱。

当前芯片制造流程中:

  • 光刻环节:ASML 极紫外(EUV)及高数值孔径(High NA)光刻机将电路计划转印至晶圆
  • 后处理环节:通过沉积工艺添加材料,再经刻蚀工艺选择性去除材料形成晶体管结构

这位英特尔总监夸大,GAAFET 与 CFET 等三维晶体管结构要求“从各个方向包裹栅极”,使得横向去除多余材料成为关键,“制造商将更专注于通过刻蚀工艺去除材料,而非延长晶圆在光刻机中的处理时间来缩小特性尺寸。”

▲台积电的 PPT,展示了晶体管的演变过程

    对于当前技能方案,现在最主流的还是鳍式场效应晶体管(FinFET),使晶体管底部毗连绝缘材料,使电流畅过栅极来完成控制;而新型计划则重要包罗:

    • GAAFET:使栅极包裹晶体管,晶体管组平行分列
    • CFET:将晶体管组垂直堆叠,可明显节流晶圆空间

英特尔总监表示,这种三维结构使芯片制造“低落对最小特性尺寸的依赖,由于不但能在平面上实现高密度,还能通过垂直堆叠告竣”,因此高数值孔径光刻机在先辈制程中的紧张性“将低于当前 EUV 设备在 7nm 及更先辈技能节点中的关键职位”。

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